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美国和欧盟的贸易和技术合作近日迈出了重要的一步，双方承诺将合作期限延长三年，以更深入地识别和分析半导体行业的干扰，特别是针对主流的传统芯片。这一决策在双方为期两天的贸易和技术理事会会议后正式公布，会议成果以一份长达12页的联合声明形式向世界展示。 负责欧盟技术政策的欧盟委员会副主席Margrethe Vestager在会议结束后表示，欧盟和美国正在就传统半导体采取“下一步措施”。她强调，在当前全球半导体市场格局中，传统芯片仍占据主导地位，特别是在汽车、家用电器和医疗设备等领域。因此，确保传统芯

高度集成的ISL91211为智能手机、IoT设备以及其他在空间和功率上受限的系统提供91%的效率，并缩小解决方案尺寸达40% 美国加州、MILPITAS --- 2017年5月16日— 全球领先的半导体解决方案供应商瑞萨电子株式会社（TSE: 6723）子公司Intersil今天宣布，推出一款用于应用处理器、GPU、FPGA和高性能系统电源的高度集成且可编程电源管理IC（PMIC）-- ISL91211，在1.1V输出电压下效率可达91%。该新型PMIC的低RDS(on) MOSFET和可编程

  KLA-Tencor公司宣布推出全新的FlashScanTM空白光罩*检测产品线。自从1978年公司推出第一台检测系统以来，KLA-Tencor一直是图案光罩检测的主要供应商，新的FlashScan产品线宣告公司进入专用空白光罩的检验市场。光罩坯件制造商需要针对空白光罩的检测系统，用于工艺开发和批量生产过程中的缺陷检测，此外，光罩制造商(“光罩厂”)为了进行光罩原料检测，设备监控和进程控制也需要购买该检测系统。 FlashScan系统可以检查针对光学或极紫外(EUV)光刻的空白光罩。   

  NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出一系列基于PCI Express Gen 3连接的高性能PXI远程控制和总线扩展模块。 PCI Express Gen 3技术提供了更高的带宽，这给5G移动研究、RF录制和回放以及高通道数数据采集等需要大量数据的应用带来了福音。   “随着新技术不断集成到智能设备中，工程师迫切需要开发更智能的测试测量系统来利用最新的数据处理和传

  KLA-Tencor公司今天针对7奈米以下的逻辑和尖端记忆体设计节点推出了五款显影成型控制系统，以帮助晶片製造商实现多重曝光技术和EUV微影所需的严格製程公差。在IC製造厂内，ATL?叠对量测系统和SpectraFilm?F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂元件结构的製造提供製程表徵分析和偏移监控。 Teron?640e光罩检测产品系列和LMS IPRO7光罩叠对位準量测系统可以协助光罩厂开发和鑑定EUV和先进的光学光罩。 5DAnalyzer?X1高级

  NVIDIA (辉达) 今天宣布推出 17.7 版 PGI 2017 编译器与工具，协助高效能运算系统开发者针对搭载多核 CPU 与异质化 GPU 加速器的系统，开发出效能更高的软体，同时大幅简化程式设计流程。   即日释出的 PGI 17.7 编译器与工具的关键特点包括：    支援Tesla V100 GPU： PGI OpenACC 与CUDA Fortran现已支援新款NVIDIA Volta GV100 GPU，提供更多记忆体频宽、串流多重处理器、新一代NVIDIA NVLink