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一、问题描绘： 某行车记载仪，测试的时分要加一个外接适配器，在机器上电运转测试时发现超标，详细频点是84MHZ、144MH、168MHZ，需求剖析其辐射超标产生的缘由，并给出相应的对策。辐射测试数据如下： 二、辐射源头剖析： 该产品只要一块PCB，其上有一个12MHZ的晶体。其中超标频点恰恰都是12MHZ的倍频，而剖析该机器容易EMI辐射超标的屏和摄像头，发现LCD-CLK是33MHZ，而摄像头MCLK是24MHZ； 经过扫除发现去掉摄像头后，超标点仍然存在，而经过屏蔽12MZH晶体，超标点有

动态范围，温度补偿与功率控制 动态范围，温度补偿和功率控制很多情况下是“看不到”的指标，只有在进行某些极限测试的时候才会表现出它们的影响，但是本身它们却体现着RF设计中最精巧的部分。 “重剑无锋，大巧不工。” ——独孤求败。 发 射机动态范围 发射机动态范围表征的是发射机“不损害其他发射指标前提下”的最大发射功率和最小发射功率。 “不损害其他发射指标”显得很宽泛，如果看主要影响，可以理解为：最大发射功率下不损害发射机线性度，最小发射功率下保持输出信号信噪比。 最大发射功率下，发射机输出往往逼近